Apprich, ClemensChun, Wendy Hui KyongCramer, FlorianSteyerl, HitoApprich, Clemens2019-09-092019-09-092018https://mediarep.org/handle/doc/13260engCreative Commons Attribution Non Commercial 4.0 GenericMustererkennungMusterErkennungMassendatenAlgorithmusKünstliche Intelligenzpattern recognitionpatternrecognitionBig Dataalgorithmartificial intelligence003384Data Paranoia: How to Make Sense of Pattern Discrimination10.25969/mediarep/12351978-3-95796-145-7http://dx.doi.org/10.14619/1457